【国开搜题】国家开放大学 一网一平台 光伏检测与分析018 期末考试押题试卷与答案

光伏检测与分析-018

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一 、单选题

1. 用冷热探笔法测量（ ）半导体时，冷端带正电，热端带负电。

A. P型

B. N型

C. PN型

D. 以上皆不是

答案：A
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2. 用冷热探笔法测量（ ）半导体时，冷端带负电，热端带正电。

A. P型

B. N型

C. PN型

D. 以上皆不是

答案：B
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3. 硅晶体中，氧的分凝系数（ ）1，碳的分凝系数（ ）1。

A. 大于 小于

B. 大于 大于

C. 小于 小于

D. 小于 大于

答案：A
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4. 气相色谱法测定干法H2的组分岗位存在的环境因素是（ ）。

A. 液氮低温冻伤

B. 潜在氢气泄露引起的爆炸

C. 温度过高

D. 没有明显危险源

答案：B
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5. 光图定向法结果直观，操作（ ），误差（ ）。

A. 简单 较大

B. 复杂 较大

C. 简单 较小

D. 复杂 较小

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6. 晶面指数最低的晶面总是具有（ ）的晶面间距。

A. 最小

B. 相等

C. 最大

D. 无法判断

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7. 直拉单晶中氧含量头部与尾部相比（ ）。

A. 较高

B. 相同

C. 较低

D. 无法判断

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8. 以下表示晶面指数最恰当的是（ ）。

A. （664）

B. （463）

C. （333）

D. （246）

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9. RO反渗透技术是利用（ ）为动力的膜分离过滤技术。

A. 吸附力

B. 离子交换国开搜题

C. 电力

D. 压力差

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10. 露点法测定气体中的水分时，本岗位存在的危险源是（ ）。

A. 液氮低温冻伤

B. 潜在氢气泄露引起的爆炸

C. 温度过高

D. 没有明显危险源国开一网一平台

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11. 三氯氢硅中痕量磷的气相色谱法的基本原则是（ ）法。

A. 自然挥发法

B. 基于时间的差别进行分离

C. 过滤

D. 化学分离

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12. 制取高纯水时一般采用（ ）交换树脂和（ ）交换树脂。

A. 强酸型阳离子 强碱型阴离子渝粤教育

B. 强碱型阴离子 强酸型阳离子

C. 强酸型阳离子 强酸型阴离子

D. 强碱型阳离子 强碱型阳离子

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13. 纯水是电阻率达到（ ）左右的水。国开搜题

A. 8

B. 9

C. 10

D. 11

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14. 树脂失效表明离子交换树脂可供交换的（ ）大为减少。

A. CL-

B. Na渝粤题库

C. H+和OH-

D. Ca

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15. 露点法测定气体中的水分时，本岗位存在的危险源是（ ）。

A. 液氮低温冻伤

B. 潜在氢气泄露引起的爆炸

C. 温度过高

D. 没有明显危险源

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16. 硅单晶样品对红外光的反射率越（ ），吸收系数越（ ），那么红外光的透射率就越小。

A. 高 大渝粤题库

B. 高 小

C. 低 大

D. 低 小

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17. （ ）是影响硅器件的成品率的一个重要因素，也是影响器件性能的稳定性和可靠性的重要因素。

A. 点缺陷

B. 线缺陷渝粤题库，我们的目标是要做全覆盖、全正确的答案搜索服务。

C. 面缺陷

D. 微缺陷

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18. X射线定向法的误差可以控制在（ ）范围内，准确度高。

A. ±10'

B. ±15'

C. ±20'

D. ±30'

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19. 放射线同位素的量越多，放出的γ射线的强度（ ）。

A. 越小

B. 不变

C. 越大

D. 随机变化

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20. X射线定向法的误差可以控制在（ ）范围内，准确度高。

A. ±10'渝粤搜题

B. ±15'

C. ±20'

D. ±30'

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二 、多选题

1. 影响半导体单晶电化学腐蚀速度的因素主要有（ ）。渝粤题库，我们的目标是要做全覆盖、全正确的答案搜索服务。

A. 腐蚀液的成分

B. 电极电位国开搜题

C. 缓冲剂的影响

D. 腐蚀处理的温度和搅拌的影响

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2. 目前常用的测量非平衡少数载流子寿命的方法，一般主要有（ ）。

A. 瞬态法

B. 直接法

C. 稳态法国开搜题

D. 间接法

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3. 自动软化系统中的控制阀功位由（ ）盐箱注水组成。

A. 运行

B. 反洗

C. 再生+慢洗

D. 快洗

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4. 由于硅晶体经历了各种温度的热处理，过饱和的间隙氧会在硅晶体中偏聚和沉淀，形成了（ ）。

A. 氧施主渝粤题库，我们的目标是要做全覆盖、全正确的答案搜索服务。

B. 氧沉淀

C. 二次缺陷

D. 氧分离

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5. 露点法测定气体中水分的过程控制表述正确有（ ）。

A. 用金属导管将被测气体导入露点瓶，出口气体经石蜡液封瓶放空测定前要赶气1h

B. 测定时，在封底铜管内加入制冷剂，在插入一直-80℃低温温度计小心搅拌，使温度下降，注意观察，当喷口所对的铜管表面出现露斑，即读出温度值，这就是测得的露点温度

C. 测定流速控制在250—300ml/min

D. 通常测-34℃以下气体观察到的是霜点，根据实验测得霜点和露点相应温度差约4℃

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三 、问答题

1. 简述RO系统清洗条件。

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2. 简述用分析法对三氯氢硅中痕量杂质的化学光谱测定的方法原理。

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3. 高频光电导衰退法测量非平衡少数载流子寿命的基本原理是什么？

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四 、配伍题

1. 将下列RO膜污染原因与适应药液一一对应。

A. 1.5%EDTA溶液

B. 碳酸盐结垢

C. 有机物污染及硫酸盐结构

D. 1%富尔马林溶液

E. 3%柠檬酸溶液

F. 细菌污染

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2. 将下列离子交换树脂的类型与变型用化学试剂用量浓度一一对应。

A. 强酸型离子交换树脂

B. 5%-10%盐酸溶液3000ml

C. 强碱型离子交换树脂

D. 5%-10%氢氧化钠溶液2500ml

E. 4%-5%Nacl溶液浸泡

F. 干树脂

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3. 将下列立方晶系部分晶面间的夹角关系一一对应。

A. 0° 60° 90°

B. {100} {100}

C. {100} {110}

D. 0° 90°渝粤题库

E. {110} {110}

F. 45° 90°

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4. 将下列气相色谱法测定干法H2的组分时样品测试各恒温系统与温度一一对应。

A. 层析室渝粤题库

B. 80℃±5℃

C. 70℃±5℃

D. 检测室

E. 100℃±5℃

F. 气化室

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5. 将下列半导体硅的常用腐蚀剂液体试剂的浓度一一对应。

A. 70%

B. HF

C. 49%

D. HNO3

E. H2O2

F. 30%

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