超尔星学雅习通材料现代分析方法形成性考核答案

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材料现代分析方法

学校: 无

问题: 1. 透镜能分辨的样品上相应的两个物点间最小距离,称为透镜的( ) 。

选项:

• A. 放大率

• B. 数值孔径

• C. 分辨率

• D. 有效放大率

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问题: 2. 电磁透镜可由短线圈构成,实现电子束( )。

选项:

• A. 平动汇聚

• B. 螺旋汇聚

• C. 平动发散

• D. 平动运动

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问题: 3. 极靴和带缝隙软磁铁可使电磁透镜的磁场强度分布( )。

选项:

• A. 更加集中

• B. 更加发散

• C. 更均匀

• D. 更随机

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问题: 4. 减小球差的方法( )

选项:

• A. 增加球差系数和增加孔径半角,尤其是孔径半角

• B. 增加球差系数和减小孔径半角,尤其是孔径半角

• C. 减小球差系数和增加孔径半角,尤其是孔径半角

• D. 减小球差系数和减小孔径半角,尤其是孔径半角

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问题: 5. 电磁透镜的分辨率主要的制约因素是( )。

选项:

• A. 衍射效应

• B. 像差

• C. 可见光波长

• D. 衍射效应+透镜球差

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问题: 6. 景深增加,样品上各微处的结构细节( )

选项:

• A. 更加清晰可见

• B. 更模糊不清

• C. 无变化

• D. 发生衍射

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问题: 7. 焦长增加,成像操作( )。

选项:

• A. 更加方便

• B. 虽变得方便,但像清晰度下降

• C. 更加困难

• D. 虽变得困难,但像清晰度上升

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问题: 8. 电子束与固体样品作用时,会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品( )的增加而增多。

选项:

• A. 表面面积

• B. 厚度

• C. 原子序数

• D. 表面形貌

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问题: 9. 电子束轰击样品后,关于产生的信号在样品中的深度位置说法正确的是( )

选项:

• A. 俄歇电子>二次电子>背散射电子> 特征X射线

• B. 二次电子>背散射电子> 特征X射线>俄歇电子

• C. 背散射电子> 特征X射线>俄歇电子>二次电子

• D. 特征X射线>背散射电子>二次电子>俄歇电子

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问题: 10. 电子束与固体样品作用时产生的信号有( )。

选项:

• A. 特征X射线

• B. 二次电子

• C. 背散射电子

• D. 俄歇电子

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问题: 11. ( )信号可用于分析材料的成分。

选项:

• A. 俄歇电子

• B. 二次电子

• C. 背散射电子

• D. 特征X射线

• E. 吸收电子

• F. 透射电子

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问题: 12. 关于二次电子的描述,正确的是( )。

选项:

• A. 二次电子信号反映样品的表面形貌特征

• B. 二次电子信号反映样品的成分信息

• C. 二次电子是入射电子与原子核外的价电子发生非弹性散射时被激发的核外电子

• D. 二次电子信号的分辨率高

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问题: 13. 背散射电子的性质是( )。

选项:

• A. 产生范围在表层100~1000 nm内

• B. 产额随原子序数增加而增加

• C. 可用于样品的表面形貌分析

• D. 可用于样品的表面成分分析

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问题: 1. 透射电镜的入射光源是聚焦的高能电子束。

选项:

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问题: 2. 透射电镜的分辨率既受衍射效应影响,也受透镜的像差影响。

选项:

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问题: 3. TEM可以观察到局部微观情况下的原子位错、缺陷等畸变。

选项:

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问题: 4. 衍射衬度是晶体满足布拉格条件不同而形成的。

选项:

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问题: 5. 明场像是质厚衬度，暗场像是衍射衬度。

选项:

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问题: 6. 透射电子显微镜的两种主要功能是( )。

选项:

• A. 表面形貌和晶体结构

• B. 组织形貌和晶体结构

• C. 表面形貌和成分价键

• D. 内部组织和成分价键

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问题: 7. 下列关于电子枪的描述,错误的是( )。

选项:

• A. 稳定束流的方式是采用自偏压回路

• B. 热阴极电子枪由阴极、栅极和阳极组成

• C. LaB6灯丝比钨灯丝稳定

• D. 采用热阴极电子枪的电镜比采用场发射电子枪的电镜分辨率高

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问题: 8. 双聚光镜系统中,聚光镜光阑通常位于第二聚光镜的( )。

选项:

• A. 前焦面上

• B. 物平面上

• C. 后焦面上

• D. 像平面上

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问题: 9. 透射电镜分辨率的高低主要取决于( )。

选项:

• A. 聚光镜

• B. 物镜

• C. 中间镜

• D. 投影镜

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问题: 10. 透射电子显微镜的衍射模式是将 ( )。

选项:

• A. 中间镜的物平面与物镜的像平面重合

• B. 中间镜的物平面与物镜的后焦面重合

• C. 关闭物镜

• D. 关闭中间镜

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问题: 11. 单晶体电子衍射花样是( )。

选项:

• A. 规则排列的点阵

• B. 不规则的点阵

• C. 晕环

• D. 同心圆环

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问题: 12. 薄膜试样多晶体的电子衍射花样为( )。

选项:

• A. 规则斑点

• B. 大晕环

• C. 同心圆环

• D. 无序的斑点

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问题: 13. 和X射线衍射相比，TEM中电子衍射技术的优势是渝粤教育( )。

选项:

• A. 进行形貌观察

• B. 分析表面组成

• C. 进行选区物相分析

• D. 成分价键分析

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问题: 14. 衬度是指( )。

选项:

• A. 像点的亮度,亮度越高,衬度就越高,图像就越明晰。

• B. 像点的强度,强度越高,衬度就越高,图像就越明晰。

• C. 两像点的强度越大,衬度就越高,图像就越明晰。

• D. 两像点间的明暗差异,差异越大,衬度就越高,图像就越明晰。

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问题: 15. 相位衬度主要是由相位差所引起的强度差异,要求晶体样品( )。

选项:

• A. 较薄

• B. 较厚

• C. 无要求

• D. 中等厚度

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问题: 16. 明场像操作是指( )。

选项:

• A. 物镜光阑挡住透射束,让衍射束下行成像的操作

• B. 物镜光阑挡住衍射束,让透射束下行成像的操作

• C. 物镜光阑挡住透射束,让三衍射束下行成像的操作

• D. 物镜光阑挡住透射束,让二衍射束下行成像的操作

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问题: 17. 同一条件下,暗场像与明场像相比( )

选项:

• A. 亮度低,衬度高

• B. 亮度高,衬度高

• C. 亮度低,衬度低

• D. 无可比性

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问题: 18. 中心暗场像与暗场像相比( )。

选项:

• A. 成像质量高，衬度相当

• B. 成像质量低，衬度高

• C. 成像质量低，衬度低

• D. 无可比性

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问题: 19. TEM的主要性能指标:( )

选项:

• A. 分辨率

• B. 放大倍数

• C. 标尺

• D. 加速电压

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问题: 20. 透射电镜的成像系统主要包括( )。

选项:

• A. 聚光镜

• B. 物镜

• C. 投影镜

• D. 中间镜

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问题: 21. 物镜光阑的作用包括( )。

选项:

• A. 提高像衬度

• B. 减小孔径角,从而减小像差

• C. 限制照明孔径角

• D. 进行明、暗场成像

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问题: 22. 电子衍射和X射线衍射均可做物相分析，关于二者的异同点说法正确的是( )。

选项:

• A. 电子衍射的检测区域大

• B. 电子衍射的衍射角度小

• C. 电子衍射的衍射强度高

• D. 电子衍射的辐射深度大

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问题: 1. 下列成像仪器中，景深最大的是( )。

选项:

• A. 金相显微镜

• B. 透射电镜

• C. 扫描电镜

• D. X射线衍射仪

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问题: 2. SEM的两种主要功能是( )。

选项:

• A. 表面形貌分析和晶体结构分析

• B. 内部组织分析和晶体结构分析

• C. 表面形貌分析和化学成分分析

• D. 内部组织分析和化学成分分析

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问题: 3. 扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数( )暗区对应区域的原子序数。

选项:

• A. 大于

• B. 小于

• C. 等于

• D. 不确定

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问题: 4. SEM中电子束斑的直径愈细，相应的成像分辨率( )。

选项:

• A. 愈高

• B. 愈低

• C. 不变

• D. 波动激烈

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问题: 5. 扫描电镜与透射电镜的电子枪相似，只是加速电压一般会更高。

选上海开放大学答案项:

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问题: 6. 扫描电镜中的物镜与透射电镜的物镜一样。

选项:

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问题: 7. SEM具有大的景深,所以它可以用来进行断口形貌的分析观察。

选项:

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问题: 8. 二次电子像中,尖棱和小颗粒的区域会比较暗。

选项:

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问题: 9. SEM用于形貌分析的物理信号是二次电子和背散射电子。

选项:

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问题: 10. SEM 用于化学成分分析的物理信号是背散射电子和吸收电子。

选项:

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问题: 11. 在扫描电子显微镜中,二次电子像衬度最亮的区域是和电子束垂直的表面。

选项:

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问题: 12. 扫描电镜用于表面形貌分析的物理信号包括( )。

选项:

• A渝粤搜题. 二次电子

• B. 背散射电子

• C. 吸收电子

• D. 俄歇电子

• E. 特征X射线

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问题: 13. 二次电子像的特点是( )。

选项:

• A. 分辨率高

• B. 显示样品的成分分布状况

• C. 立体感强

• D. 可以用于分析晶体取向结构

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问题: 14. 扫描电镜对样品的要求是( )。

选项:

• A. 样品必须导电

• B. 能承受电子轰击

• C. 样品尺寸没有严格限制,以便于制样和不损坏样品室探测器为宜

• D. 检测时直接将样品放在样品台上

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问题: 15. SEM分析制样时,非导电材料镀膜的目的是( )。

选项:

• A. 增加样品的导电性,避免荷电现象

• B. 增加电子的耐轰击能力

• C. 改变样品表面结构和尺寸。

• D. 增加样品表面二次电子发射率,从而提高反差。

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问题: 1. 扫描电镜与电子探针结合可实现对试样的( )。

选项:

• A. 形貌、成分和结构的综合分析

• B. 成分和结构的综合分析

• C. 形貌和结构的综合分析

• D. 形貌和成分的综合分析

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问题: 2. 电子探针分析可分析微区的( )。

选项:

• A. 形貌

• B. 衍射花样

• C. 成分

• D. 结构

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问题: 3. 能谱仪是通过( )对不同能量的特征X射线进行展谱的。

选项:

• A. 分光晶体

• B. Si(Li)半导体晶体

• C. 计数器

• D. 栅缝

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问题: 4. 在电子探针面分析中,根据图像上亮点的疏密和分布,可确定该元素在试样中分布情况,亮区代表元素含量( )。

选项:

• A. 低

• B. 中等

• C. 高

• D. 没有

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问题: 5. STM的样品( )。

选项:

• A. 一般需特别制备,且对样品有损伤

• B. 一般无需特别制备,但对样品有损伤

• C. 一般无需特别制备,且对样品无损伤

• D. 一般需特别制备,但对样品无损伤

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问题: 6. 以下属于STM工作模式的是（ ）

选项:

• A. 恒高式

• B. 非接触式

• C. 轻敲式

• D. 接触式

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问题: 7. AFM有多种工作模式,不属于其工作模式的是( )。

选项:

• A. 接触模式

• B. 非接触模式

• C. 轻敲模式

• D. 恒高模式

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问题: 8. 电子探针的能谱仪和波谱仪比较，波谱仪( )。

选项:

• A. 分析速度慢

• B. 适合粗糙表面工作

• C. 分辨率高

• D. 分析元素范围广

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问题: 9. 电子探针显微分析用的物理信号是电子束作用样品后产生的特征X射线。

选项:

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问题: 10. 电子探针和X射线衍射仪一样,都可以直接确定材料中所包含的物相。

选项:

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问题: 11. 能谱仪是通过分光晶体对不同能量的特征X射线进行展谱的。

选项:

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问题: 12. 能谱仪可测定原子序数从3到92之间的所有元素。

选项:

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问题: 13. 扫描隧道显微镜可获得绝缘体、半导体、导体表面的原子级分辨图像;还可测量、分析样品表面纳米级力学性质 。

选项:

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问题: 14. 接触模式适合软样品的表面形貌分析。

选项:

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问题: 15. AFM对试样的导电性无要求,导体、半导体、绝缘体均可。

选项:

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问题: 1. 差热分析(DTA)是指在程序控温下,测量试样物质与参比物的 ( ) 随温度或时间变化的一种技术。

选项:

• A. 温差

• B. 质量差

• C. 比热差

• D. 密度差

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问题: 2. 差示扫描量热(DSC)是指( )

选项:

• A. 在程序控温下,测量样品和参比物之间的温度差随温度变化的一种技术

• B. 在程序控温下,测量参比物的温度随加热时间变化的一种技术

• C. 在程序控温下,测量样品的温度随加热时间变化的一种技术

• D. 在程序控温下,测量单位时间内输入到样品和参比物之间的能量差(或功率差)随温度变化的一种技术

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问题: 3. 参比物在测定的温度范围内( )。

选项:

• A. 可以放热、吸热

• B. 不可以发生任何热效应

• C. 可以氧化、增重

• D. 可以分解

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问题: 4. DTA曲线中的反应峰的峰顶温度表示( )。

选项:

• A. 反应终了温度

• B. 最大反应速率

• C. 试样的特渝粤题库征温度

• D. 试样与参比物间的温差最大

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问题: 5. 提高升温速率,可使热效应峰( )

选项:

• A. 向高温方向移动

• B. 向低温方向移动

• C. 不动

• D. 面积大幅减小

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问题: 6. 粉末试样的粒度越小,比表面积越大,活性越强,导致( )。

选项:

• A北京开放大学答案. 反应无法进行

• B.云南开放大学答案 反应的起始温度增高

• C. 反应的起始温度不变

• D. 反应的起始温度降低

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问题: 7. 以下关于DSC分析的描述,不正确的是( )。

选项:

• A. 分辨率高于DTA

• B. 纵坐标表示温差

• C. 对热效应的响应比DTA更灵敏

• D. 定量水平高于DTA

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问题: 8. 影响DTA(DSC)曲线的因素包括( )。

选项:

• A. 升温速率

• B. 样品粒度

• C. 炉内气氛

• D. 样品用量

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问题: 9. 差热分析中,试样对曲线会产生影响,影响因素有( )。

选项:

• A. 试样用量

• B. 试样的装填

• C. 试样粒度

• D. 试样结晶度

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问题: 10. 同一样品在不同仪器上的热分析结果应该完全不相同。

选项:

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问题: 11. 热效应的峰面积表征热效应的大小。

选项:

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问题: 12. 碳酸钙分解在DTA曲线上表现为放热峰。

选项:

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问题: 13. 物质脱水在DTA曲线上表现为吸热峰。

选项:

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问题: 14. 金属铁粉在空气气氛中进行热重(TG)和差热分析(DTA),其TG曲线上会有增重台阶,DTA曲线上会出现一放热峰。

选项:

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问题: 15. 差热分析时试样用量不宜过多,试样用量多,会导致峰形扩大和分辨率下降。

选项:

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问题: 16. 试样用量少时相邻峰分离能力增强、分辨率提高，但DSC的灵敏度会有所降低。

选项:

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问题: 1. ( )是指材料内部孔隙的体积占材料总体积的百分率。

选项:

• A. 孔隙率

• B. 孔径分布

• C. 孔的形貌

• D. 孔的排列

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问题: 2. 对于孔径在30nm以下的多孔材料，常用哪种方法来测定孔径分布? ( )

选项:

• A. 显微分析法

• B. 压汞法

• C. 氮气吸附法

• D. X射线小角度散射法

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问题: 3. 对于孔径在100 μm以下的多孔体，常用哪种方法来测定孔径分布( )。

选项:

• A. 显微分析法

• B. 压汞法

• C. 氮气吸附法

• D. X射线小角度散射法

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问题: 4. 采用等温吸附法得到的吸附曲线为II类等温吸附线，说明该材料的孔径为：

选项:

• A. 微孔

• B. 大孔

• C. 介孔

• D. 不确定

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问题: 5. 压汞法是基于水银对固体表面具有不可润湿性,只有在压力的作用下,水银才能挤入多孔材料的孔隙中,孔径越小,所需要的压力就越大。

选项江苏开放大学答案:

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问题: 6. 吸附平衡等温线分为吸附和脱附两部分,其形状与材料的孔组织结构有关。

选项:

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问题: 7. I型等温线是具有微孔材料特征的吸附等温线。

选项:

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问题: 8. 压汞过程中，随着外界压力的增加，汞进入更小的孔。

选项:

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问题: 1. 以下哪些项不是红外光谱与拉曼光谱的共同特征( )。

选项:

• A. 提供分子振动频率信息

• B. 反映偶极矩变化

• C. 反映分子振动时带来的极化率变化

• D. 分子光谱

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问题: 2. 以下关于拉曼光广东开放大学答案谱的说法不正确的是（ ）

选项:

• A. 能够提供分子振动频率的信息

• B. 需经过复杂的制样过程

• C. 水分子的存在会影响拉曼光谱分析

• D. 所需样品量少

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问题: 3. 红外吸收光谱的产生是由于( )

选项:

• A. 分子外层电子、振动、转动能级的跃迁

• B. 原子外层电子、振动、转动能级的跃迁

• C. 分子振动-转动能级的跃迁

• D. 分子外层电子的能级跃迁

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问题: 4. 下面四种气体,不吸收红外光的是( )。

选项:

• A. H2O

• B. CO2

• C. HCl

• D. N2

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问题: 5. 在红外光谱分析中,用KBr制作为试样池,这是因为( )。

选项:

• A. KBr晶体在 4000~400cm-1范围内不会散射红外光

• B. KBr在 4000~400 cm-1范围内有良好的红外光吸收特性

• C. KBr在 4000~400 cm-1范围内无红外光吸收

• D. 在 4000~400 cm-1范围内,KBr对红外无反射

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问题: 6. 红外光谱法试样可以是( )。

选项:

• A. 水溶液

• B. 含游离水

• C. 含结晶水

• D. 不含水

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问题: 7. 以下哪类物质不适合用拉曼光谱进行分析。( )

选项:

• A. 无机物

• B. 水分子

• C. 含有S-S官能团

• D. 气体试样

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问题: 8. 固、液、气状态的试样均可采用红外光谱法分析。

选项:

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问题: 9. 水分子适宜用拉曼光谱进行分析。

选项:

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问题: 10. 红外光谱是吸收光谱,分子在振动跃迁过程中有偶极矩的改变。

选项:

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问题: 11. 按光谱与分子结构的特征,红外光谱可分为官能团区和指纹区。

选项:

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问题: 12. 拉曼散射是分子散射光谱,能够反映分子振动偶极矩的变化。

选项:

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