光伏检测与分析-006
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一 、单选题
1. 三探针法属于利用半导体的( )来测量导电类型的方法。
A. 温差电效应
B. 整流效应
C. 以上二种皆可
D. 以上二种皆不可
答案:B
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2. 冷热探笔法属于利用半导体的( )来测量导电类型的方法。
A. 温差电效应
B. 整流效应
C. 以上二种皆可
D. 以上二种皆不可
答案:A
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3. 气相色谱法测定干法H2的组分岗位存在的环境因素是( )。
A. 液氮低温冻伤
B. 潜在氢气泄露引起的爆炸
C. 温度过高
D. 没有明显危险源
答案:B
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4. 光图定向法结果直观,操作( ),误差( )。
A. 简单 较大
B. 复杂 较大
C. 简单 较小
D. 复杂 较小
答案:A
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5. 悬浮区熔法检验硅多晶中基磷含量时,采用快速区熔法的工艺,第一次区熔时,第一次熔区停留挥发时间( )左右。
A. 3min
B. 5min
C. 10min
D. 20min
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6. 以下表示晶面指数最恰当的是( )。
A. (664)
B. (463)
C. (333)
D. (246)
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7. 直拉单晶中氧含量头部与尾部相比( )。
A. 较高
B. 相同
C. 较低
D. 无法判断
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8. 晶面指数最低的晶面总是具有( )的晶面间距。
A. 最小
B. 相等
C. 最大
D. 无法判断
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9. 露点法测定气体中的水分时,本岗位存在的危险源是( )。
A. 液氮低温冻伤
B. 潜在氢气泄露引起的爆炸
C. 温度过高
D. 没有明显危险源
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10. RO反渗透技术是利用( )为动力的膜分离过滤技术。
A. 吸附力
B. 离子交换
C. 电力
D. 压力差
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11. 以下那一项不是三氯氢硅中痕量磷的气象色谱测定步骤中,在温度680度和石英石的催化作用下,样品及其含磷杂质分别被氢还原产物( )。
A. 混合氯代硅烷
B. 氯化氢
C. 磷化氢
D. 水
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12. 超纯水是电阻率达到( )左右的水。
A. 16
B. 17
C. 18
D. 19
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13. 下列哪一项不是天然水的三大杂质之一( )。
A. 悬浮物质
B. 挥发物质
C. 胶体物质
D. 溶解物质
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14. 树脂失效表明离子交换树脂可供交换的( )大为减少。
A. CL-
B. Na
C. H+和OH-
D. Ca
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15. ( )是影响硅器件的成品率的一个重要因素,也是影响器件性能的稳定性和可靠性的重要因素。
A. 点缺陷
B. 线缺陷
C. 面缺陷
D. 微缺陷
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16. 直拉单晶中氧含量头部与尾部相比( )。
A. 较高
B. 相同
C. 较低
D. 无法判断
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17. ( )是影响硅器件的成品率的一个重要因素,也是影响器件性能的稳定性和可靠性的重要因素。
A. 点缺陷
B. 线缺陷
C. 面缺陷
D. 微缺陷
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18. X射线定向法的误差可以控制在( )范围内,准确度高。
A. ±10'
B. ±15'
C. ±20'
D. ±30'
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19. X射线定向法的误差可以控制在( )范围内,准确度高。
A. ±10'
B. ±15'
C. ±20'
D. ±30'
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20. 放射线同位素的量越多,放出的γ射线的强度( )。
A. 越小
B. 不变
C. 越大
D. 随机变化
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二 、多选题
1. 由于硅晶体经历了各种温度的热处理,过饱和的间隙氧会在硅晶体中偏聚和沉淀,形成了( )。
A. 氧施主
B. 氧沉淀
C. 二次缺陷
D. 氧分离
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2. 陷阱效应对少数载流子寿命测量的影响可以采用( )。
A. 使整个样品加底光照
B. 加底光照后用氙灯闪光进行照射
C. 将硅单晶加热到50~70℃
D. 将硅单晶加热到60~80℃
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3. 影响树脂再生的主要因素有( )。
A. 再生剂的类型、强度、浓度、流速、酸、碱液与离子交换树脂接触的时间等
B. 终点PH值的大小
C. 离子交换树脂的分离、反洗效果、混合程度、清洁卫生等
D. 杂质量的多少
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4. 某样品受到红外线照射时,会产生以下( )现象。
A. 反射
B. 折射
C. 吸收
D. 透过
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5. 在立方晶系中,主要有如下( )性质。
A. a=b=c
B. 体积
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三 、问答题
1. 简述离子交换法制备纯水交换、再生过程。
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2. 简述用分析法对三氯氢硅中痕量杂质的化学光谱测定的方法原理。
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3. 高频光电导衰退法测量非平衡少数载流子寿命的基本原理是什么?
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四 、配伍题
1. 将下列气相色谱法测定干法H2的组分时样品测试各恒温系统与温度一一对应。
A. 层析室
B. 80℃±5℃
C. 70℃±5℃
D. 检测室
E. 气化室
F. 100℃±5℃
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2. 将下列多介质过滤器工作原理与内容一一对应。
A. 反洗
B. 将原水泵停止,阀门关闭,让多介质自然下沉,使沙层排列平整
C. 原水由进口进入控制阀,从阀芯的上部经阀体内,并由顶部进入罐体
D. 静止
E. 正洗
F. 水从底部进入石英砂过滤层后由上部排除
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3. 硅中氧和硅原子之间组成非线性Si-O-Si模型,请将以下关系一一对应。
A. 硅原子向氧原子运动,振动频率1205 cm-1
B. 硅-氧键的对称伸张振动
C. 硅-氧键的弯曲振动
D. 硅原子偏离赤道面,振动频率515 cm-1
E. 硅原子沿硅-氧键的方向运动,振动频率1105 cm-1
F. 硅-氧键的反对称伸张振动
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4. 将下列不同电阻率的测量电流范围一一对应。
A. 样品电阻率>1000
B. 样品电流<1
C. 样品电流<0.1
D. 样品电阻率30~1000
E. 样品电阻率1~30
F. <0.01
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5. 将下列硅的腐蚀剂与腐蚀时间一一对应。
A. 10~15min
B. Shimmle腐蚀液
C. 20 min以上
D. Wright腐蚀液
E. Sirtl腐蚀液
F. 5min
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