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2024秋最新国家开放大学国开电大机考期末光伏检测与分析04机考期末试卷参考试题

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光伏检测与分析-014关注公众号【飞鸟搜题】,回复【试题】获取试卷答案文档说明:本人针对该科精心汇总了历年题库及答案,形成一个完整的题库,并且每年都在更新。该题库对考生的复习、作业和考试起着非常重要的

光伏检测与分析-014

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文档说明:本人针对该科精心汇总了历年题库及答案,形成一个完整的题库,并且每年都在更新。该题库对考生的复习、作业和考试起着非常重要的作用,会给您节省大量的时间。做考题时,利用本文档中的查找工具,把考题中的关键字输到查找工具的查找内容框内,就可迅速查找到该题答案。本文库还有期末考核试题、其他网核及教学考一体化、一网一平台复习试题与答案,敬请查看。

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一 、单选题

1. 用冷热探笔法测量( )半导体时,冷端带正电,热端带负电。

A. P型

B. N型

C. PN型

D. 以上皆不是

答案:A
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2. 用冷热探笔法测量( )半导体时,冷端带负电,热端带正电。

A. P型

B. N型

C. PN型

D. 以上皆不是

答案:B
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3. 硅晶体中,氧的分凝系数( )1,碳的分凝系数( )1。

A. 大于 小于

B. 大于 大于

C. 小于 小于

D. 小于 大于

答案:A
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4. 光图定向法结果直观,操作( ),误差( )。

A. 简单 较大

B. 复杂 较大

C. 简单 较小

D. 复杂 较小

答案:A
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5. 质谱的定量分析是在质谱图上,谱线的峰值所对应的离子流强度即谱线的黑度代表了( )从而进行杂质分析。

A. 离子的质量

B. 离子的浓度

C. 离子的运动

D. 离子的温度

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6. 直拉单晶中氧含量头部与尾部相比( )。

A. 较高

B. 相同

C. 较低

D. 无法判断

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7. 晶面指数最低的晶面总是具有( )的晶面间距。

A. 最小

B. 相等

C. 最大

D. 无法判断

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8. 以下表示晶面指数最恰当的是( )。

A. (664)

B. (463)

C. (333)

D. (246)

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9. 露点法测定气体中的水分时,本岗位存在的危险源是( )。

A. 液氮低温冻伤

B. 潜在氢气泄露引起的爆炸

C. 温度过高

D. 没有明显危险源

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10. 露点法测定气体中的水分时,本岗位存在的危险源是( )。

A. 液氮低温冻伤

B. 潜在氢气泄露引起的爆炸

C. 温度过高

D. 没有明显危险源

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11. RO反渗透技术是利用( )为动力的膜分离过滤技术。

A. 吸附力

B. 离子交换

C. 电力

D. 压力差

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12. 纯水是电阻率达到( )左右的水。

A. 8

B. 9

C. 10

D. 11

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13. 树脂失效表明离子交换树脂可供交换的( )大为减少。

A. CL-

B. Na

C. H+和OH-

D. Ca

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14. 下列哪一项不是天然水的三大杂质之一( )。

A. 悬浮物质

B. 挥发物质

C. 胶体物质

D. 溶解物质

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15. 硅单晶样品对红外光的反射率越( ),吸收系数越( ),那么红外光的透射率就越小。

A. 高 大

B. 高 小

C. 低 大

D. 低 小

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16. 漩涡缺陷是晶体中( )的局部聚集。

A. 点缺陷

B. 线缺陷

C. 面缺陷

D. 微缺陷

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17. ( )是影响硅器件的成品率的一个重要因素,也是影响器件性能的稳定性和可靠性的重要因素。

A. 点缺陷

B. 线缺陷

C. 面缺陷

D. 微缺陷

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18. 放射线同位素的量越多,放出的γ射线的强度( )。

A. 越小

B. 不变

C. 越大

D. 随机变化

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19. X射线定向法的误差可以控制在( )范围内,准确度高。

A. ±10'

B. ±15'

C. ±20'

D. ±30'

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20. X射线定向法的误差可以控制在( )范围内,准确度高。

A. ±10'

B. ±15'

C. ±20'

D. ±30'

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二 、多选题

1. 由于硅晶体经历了各种温度的热处理,过饱和的间隙氧会在硅晶体中偏聚和沉淀,形成了( )。

A. 氧施主

B. 氧沉淀

C. 二次缺陷

D. 氧分离

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2. 测量少数载流子寿命时注入比控制的方法主要有( )方面。

A. 控制氙灯的闪光电压

B. 加滤光片

C. 加光阑

D. 加热硅单晶

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3. 某样品受到红外线照射时,会产生以下( )现象。

A. 反射

B. 折射

C. 吸收

D. 透过

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4. 一个气相色谱系统包括( )。

A. 可控而纯净的载气源

B. 进样口

C. 色谱柱

D. 检测器

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5. 在立方晶系中,晶面和晶面间的夹角为( )。

A.

B. 30°

C. 60°

D. 90°

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三 、问答题

1. 简述离子交换法制备纯水交换、再生过程。

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2. 简述用分析法对三氯氢硅中痕量杂质的化学光谱测定的方法原理。

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3. 简述气相色谱法基本原理。

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四 、配伍题

1. 将下列RO膜污染原因与适应药液一一对应。

A. 1.5%EDTA溶液

B. 碳酸盐结垢

C. 有机物污染及硫酸盐结构

D. 1%富尔马林溶液

E. 3%柠檬酸溶液

F. 细菌污染

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2. 将下列天然水中杂质三大部分情况一一对应。

A. 溶胶、硅胶、铁、铝

B. 悬浮物质

C. 胶体物质

D. 细菌、泥沙、黏土等其他不容物质

E. 溶解物质

F. Ca 、Mg、N【A.】Fe、Mn的酸式碳酸盐

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3. 将下列立方晶系部分晶面间的夹角关系一一对应。

A. 0° 60° 90°

B. {100} {100}

C. {100} {110}

D. 0° 90°

E. {110} {110}

F. 45° 90°

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4. 将以下X射线定向仪主要构成部分一一对应。

A. 吸盘

B. X射线发生部分

C. X射线检测部分

D. X射线管

E. 样品台

F. 盖革计数管和计数时率计

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5. 将下列不同电阻率的测量电流范围一一对应。

A. 样品电阻率<0.01

B. 样品电流<100

C. 样品电阻率0.01~1

D. 样品电流<10

E. 样品电阻率1~30

F. <1

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