光伏检测与分析-014

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一 、单选题

1. 用冷热探笔法测量（ ）半导体时，冷端带正电，热端带负电。

P型

N型

PN型

以上皆不是

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2. 用冷热探笔法测量（ ）半导体时，冷端带负电，热端带正电。

P型

N型

PN型

以上皆不是

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3. 硅晶体中，氧的分凝系数（ ）1，碳的分凝系数（ ）1。

大于 小于

大于 大于

小于 小于

小于 大于

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4. 光图定向法结果直观，操作（ ），误差（ ）。

简单 较大

复杂 较大

简单 较小

复杂 较小

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5. 质谱的定量分析是在质谱图上，谱线的峰值所对应的离子流强度即谱线的黑度代表了（ ）从而进行杂质分析。

离子的质量

离子的浓度

离子的运动

离子的温度

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6. 直拉单晶中氧含量头部与尾部相比（ ）。

较高

相同

较低

无法判断

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7. 晶面指数最低的晶面总是具有（ ）的晶面间距。

最小

相等

最大

无法判断

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8. 以下表示晶面指数最恰当的是（ ）。

（664）

（463）

（333）

（246）

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9. 露点法测定气体中的水分时，本岗位存在的危险源是（ ）。

液氮低温冻伤

潜在氢气泄露引起的爆炸

温度过高

没有明显危险源

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10. 露点法测定气体中的水分时，本岗位存在的危险源是（ ）。

液氮低温冻伤

潜在氢气泄露引起的爆炸

温度过高

没有明显危险源

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11. RO反渗透技术是利用（ ）为动力的膜分离过滤技术。

吸附力

离子交换

电力

压力差

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12. 纯水是电阻率达到（ ）左右的水。

8

9

10

11

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13. 树脂失效表明离子交换树脂可供交换的（ ）大为减少。

CL-

Na

H+和OH-

Ca

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14. 下列哪一项不是天然水的三大杂质之一（ ）。

悬浮物质

挥发物质

胶体物质

溶解物质

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15. 硅单晶样品对红外光的反射率越（ ），吸收系数越（ ），那么红外光的透射率就越小。

高 大

高 小

低 大

低 小

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16. 漩涡缺陷是晶体中（ ）的局部聚集。

点缺陷

线缺陷

面缺陷

微缺陷

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17. （ ）是影响硅器件的成品率的一个重要因素，也是影响器件性能的稳定性和可靠性的重要因素。

点缺陷

线缺陷

面缺陷

微缺陷

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18. 放射线同位素的量越多，放出的γ射线的强度（ ）。

越小

不变

越大

随机变化

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19. X射线定向法的误差可以控制在（ ）范围内，准确度高。

±10'

±15'

±20'

±30'

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20. X射线定向法的误差可以控制在（ ）范围内，准确度高。

±10'

±15'

±20'

±30'

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二 、多选题

1. 由于硅晶体经历了各种温度的热处理，过饱和的间隙氧会在硅晶体中偏聚和沉淀，形成了（ ）。

氧施主

氧沉淀

二次缺陷

氧分离

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2. 测量少数载流子寿命时注入比控制的方法主要有（ ）方面。

控制氙灯的闪光电压

加滤光片

加光阑

加热硅单晶

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3. 某样品受到红外线照射时，会产生以下（ ）现象。

反射

折射

吸收

透过

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4. 一个气相色谱系统包括（ ）。

可控而纯净的载气源

进样口

色谱柱

检测器

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5. 在立方晶系中，晶面和晶面间的夹角为（ ）。

0°

30°

60°

90°

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三 、问答题

1. 简述离子交换法制备纯水交换、再生过程。

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2. 简述用分析法对三氯氢硅中痕量杂质的化学光谱测定的方法原理。

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3. 简述气相色谱法基本原理。

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四 、配伍题

1. 将下列RO膜污染原因与适应药液一一对应。

1.5%EDTA溶液

碳酸盐结垢

有机物污染及硫酸盐结构

1%富尔马林溶液

3%柠檬酸溶液

细菌污染

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2. 将下列天然水中杂质三大部分情况一一对应。

溶胶、硅胶、铁、铝

悬浮物质

胶体物质

细菌、泥沙、黏土等其他不容物质

溶解物质

Ca 、Mg、N【A.】Fe、Mn的酸式碳酸盐

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3. 将下列立方晶系部分晶面间的夹角关系一一对应。

0° 60° 90°

{100} {100}

{100} {110}

0° 90°

{110} {110}

45° 90°

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4. 将以下X射线定向仪主要构成部分一一对应。

吸盘

X射线发生部分

X射线检测部分

X射线管

样品台

盖革计数管和计数时率计

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5. 将下列不同电阻率的测量电流范围一一对应。

样品电阻率＜0.01

样品电流＜100

样品电阻率0.01～1

样品电流＜10

样品电阻率1～30

＜1

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